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研磨石英片用绿碳化硅1200#1500#碳化硅

为什么石英片研磨要用绿碳化硅在石英片(石英玻璃 熔融石英)的精密加工链中,从 1200 延伸或递进到 1500 (平均粒径约为 2 5 至 4


产品内容

研磨石英片用绿碳化硅1200#1500#碳化硅
在石英片(石英玻璃/熔融石英)的精密加工链中,从
1200# 延伸或递进到 1500#(平均粒径约为 2.5 至 4.5 微米),属于超精密研磨(Ultra-fine Lapping)的黄金组合。
选择绿碳化硅(GC)1200# 和 1500# 混合使用或分道工序精研,是为了在去除效率、抑制亚表面损伤、以及实现极致的“半镜面”效果之间,达到半导体及光学级别的严苛标准。
以下是深度技术原因:
1. 为什么必须要绿碳化硅(GC)?
石英片是硬脆材料(莫氏硬度约 7),对热和机械应力极度敏感。
  • “以硬克硬”且切削锋利:绿碳化硅硬度极高(莫氏 9.5),其多角形的尖锐晶体能轻松切入石英,即使在微米级粒径下依然保持高效的微切削力。
  • 特殊的“滚动粉碎”保护机制:绿碳化硅的一大特性是“高脆性(自锐性)”。在研磨盘间滚动时,颗粒受到挤压会主动破碎成更小的锋利颗粒。这种自动粉碎行为充当了应力缓冲器,能防止磨料刚性过强而将石英片“砸”出深层肉眼不可见的内裂纹。
2. 为什么要锁定 1200# 和 1500# 配合使用?
这两个目数是微米级加工(Micro-machining)的临界点:
  • 实现“延性剪切”而非“脆性断裂”
    当磨料粒径较粗时,石英是以微观“崩碎、断裂”的方式被剥离的,表面粗糙且裂纹多。当粒度细到 1200# - 1500# 时,由于单个磨粒施加的压力极小,石英材料的去除机理会发生质变——从“脆性断裂”转变为类似金属切削的“延性塑性刮擦”。这能让石英片表面变得极其平滑,极大地减少了宏观微裂纹的产生。
  • 将“亚表面损伤(SSD)”降至极限
    石英片加工最怕“内伤”(即表面下微裂纹层)。如果内伤太深,石英片在半导体腔体的高温或高真空下会直接爆裂。1200# 的 D50 粒径约 3-4 微米,1500# 约 2.5-3 微米。1500# 作为最后的精研工序,能把前道工序(如 600# 或 1200#)留下的亚表面损伤层彻底磨去,将最终的损伤深度锁定在 1-2 微米以内
  • 为抛光(Polishing)做完美衔接(大幅缩短工时)
    最后的镜面抛光(使用二氧化铈或二氧化硅)属于纳米级加工,去除率极低。如果研磨面不够细,抛光要抛十几个小时,且容易导致几何尺寸变形(塌边)。经 1200# 基础精研,再用 1500# 抛光前扫尾,石英片会呈现出非常均匀、细腻的半透明雾面(半镜面效果),表面粗糙度 Ra 可达 0.1 微米以下。此时切入抛光工序,只需极短时间就能拉升至完全的光学镜面。
  • 确保极佳的几何精度(TTV/平行度)
    在半导体晶圆承载片或光刻掩膜版基片的加工中,厚度总公差(TTV)往往要求在 1-2 微米内。1200# 和 1500# 的微粉在研磨液中悬浮流动极度均匀,不会产生局部过切,是控制片厚一致性的最佳粒度。
3. 典型工艺流程应用
在实际工厂操作中,它们通常这样分工:
  • 1200# 工序:负责快速修整前道(如 600# 或 800#)留下的较深机械划痕,并进行微量减薄,使表面初步均匀化。
  • 1500# 工序:紧接着 1200# 进行“扫尾”,纯粹是为了消灭 1200# 引起的极其微小的亚表面应力,并把表面粗糙度压到极致,为马上进行的化学机械抛光(CMP)铺平道路。

总结:
选择绿碳化硅 1200# 和 1500#,本质上是一场“用最锋利的微利刃,做最温柔的塑性切削”的技术方案,是保证高价值半导体/光学石英片不碎、不裂、极平、极好抛光的关键核心。

 

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